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超聲電聲法Zeta電位儀是顆粒表面處理的重要手段

更新時(shí)間:2021-07-12      點(diǎn)擊次數(shù):823
  超聲電聲法Zeta電位儀主要通過測(cè)定顆粒的Zeta電位,求出等電點(diǎn),是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法,在顆粒表面處理中也是重要的手段。該儀器采用質(zhì)量交換法測(cè)定Zeta電位。所謂質(zhì)量交換型Zeta電位測(cè)定儀實(shí)際上仍是根據(jù)電泳速度測(cè)定Zeta電位,但不是逐個(gè)觀察顆粒的運(yùn)動(dòng)速度,而是把速度轉(zhuǎn)化為質(zhì)量,將定向運(yùn)動(dòng)的顆粒收集在電極上,根據(jù)電極的增重計(jì)算Zeta電位。收集顆粒的電極就是可以自由裝卸的樣品池的底部,它的增重是通過稱量樣品池實(shí)驗(yàn)前與實(shí)驗(yàn)后的重量求得的。由于電極在收集相反電荷顆粒的同時(shí),還要排出同體積的液體介質(zhì),求得的增重實(shí)際上是沉積在電極上的顆粒重量減去同體積液體的重量。
  超聲電聲法Zeta電位儀測(cè)量粒徑分布:
  1.測(cè)量粒徑前,需查知樣品分散劑的粘度、折光指數(shù)(Refractive Index)
  2.用卷紙輕輕點(diǎn)拭樣品池外側(cè)水滴,切勿用力擦拭,以防將樣品池劃傷,如發(fā)現(xiàn)樣品池有劃紋,需更換。
  3.手盡量避免觸摸樣品池下端,否則會(huì)影響光路。
  4.一定要去除樣品池內(nèi)的氣泡。
  5.實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池為聚苯乙烯材質(zhì),不可用于測(cè)量有機(jī)分散體系。
  6.實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池,測(cè)量溫度不可高于50攝氏度。
  7.如需測(cè)量有機(jī)分散體系或高于50攝氏度,請(qǐng)自帶石英比色皿。
  8.使用濾紙過濾時(shí),舍去過濾后的樣品,以防濾紙上雜質(zhì)進(jìn)入樣品池。
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